A Espectroscopia de energia dispersiva de raios-X (EDS) integrada ao Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é uma análise semi-quantitativa que permite identificar os elementos químicos presentes na amostra.
A técnica consiste em analisar o comprimento de onda modificado emitido após a interação entre a radiação eletromagnética emitida pelo equipamento e a estrutura atômica dos elementos.
Normas avaliadas pelo CCDM: Metodologia interna e outras normas e procedimentos sob consulta.
Informações adicionais: Essa técnica possibilita identificar a composição química de pequenas porções de material como partículas e resíduos, além de identificar microconstituintes específicos e natureza de inclusões exógenas.
O diâmetro reduzido do feixe permite a determinação da composição em amostras de tamanhos muito reduzidos (<5 µm), permitindo uma análise quase pontual.
